Obraz SEM warstwy domieszkowanych nanopręcików na podłożu krzemowym (widok główny A i przekrój B wykonany technologią Ga-FIB)

Obraz SEM przekroju przez blaszkę miedzianą z naniesioną warstwą chromu wykonanego dzięki technologii Ga-FIB

Obraz SEM przekroju dwuwarstwy na podłożu krzemowym wykonanego technologią Ga-FIB