08.08
2017

Logo Nanores wykonane na kulach cyny metodą Focused Ion Beam. Nasz mikroskop SEM / Ga-FIB firmy DualBeam (FEI Helios NanoLab 600i) wykorzystuje wiązkę jonów Ga+ do obróbki niewielkich powierzchni. Następnie zintegrowana kolumna SEM, dzięki skupionej wiązce elektronów, umożliwia obrazowanie próbki znajdującej się w komorze.